Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada
revisada, atualizada e ampliada · 2ª edição
Outras edições e formatos
1 opção
Ofertas
Sobre o livro
Ficha técnica
Livros da Editora Manole: Catálogo Completo e Lançamentos
Livros semelhantes
Perguntas frequentes
Sobre o que é o livro Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada?
Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins.
Quem escreveu Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada?
Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada foi escrito por Armando Albertazzi G. Jr.. Armando Albertazzi G. Jr. é professor titular no departamento de Engenharia Mecânica da Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC), onde leciona metrologia e estatística em cursos de graduação e pós-graduação. Sua obra mais relevante, em coautoria com André R.
Quais são os dados desta edição?
Esta edição é publicada pela Editora Manole, em 2017, com 480 páginas e no formato Impresso.
Qual é o ISBN de Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada?
O ISBN/EAN informado para esta edição é 9788520433751.
Onde comparar preços de Fundamentos de metrologia científica e industrial: revisada, atualizada e ampliada?
A Orelha de Livro compara a oferta disponível para esta edição. O preço e a disponibilidade finais devem ser confirmados na loja.